PP濾芯微濾膜結(jié)構(gòu)與性能的表征
PP濾芯微濾膜一般通過(guò)機(jī)械截留、架橋作用、網(wǎng)絡(luò)型膜的網(wǎng)絡(luò)內(nèi)部截留作用及吸附等形式起到分離作用，截留率和能量是衡量微濾膜分離性能好壞的兩個(gè)重要參數(shù)。截留率和通量與膜的結(jié)構(gòu)有密切關(guān)系，受到孔結(jié)構(gòu)及其分布的直接影響。微濾膜孔結(jié)構(gòu)大致可以從膜表面孔結(jié)構(gòu)及剖面孔結(jié)構(gòu)進(jìn)行直觀的剖析和了解，也可以用孔徑、孔徑分布、孔隙率等住處進(jìn)行間接表征。如何表征微濾膜的結(jié)構(gòu)與性能
孔結(jié)構(gòu)的表征
PP濾芯微濾膜的孔徑范圍為0.1-10um,有直孔、曲孔、網(wǎng)狀孔、指狀孔之分，有對(duì)稱與不對(duì)稱之分。電子顯微鏡是直觀研究微濾膜孔結(jié)構(gòu)的重要工具之一。其他方法還有間接的測(cè)定方法，如泡點(diǎn)法、壓汞法、滲透法、氣體流量法、已知顆粒通過(guò)法、干濕空氣濾速法、泡點(diǎn)法十濾速法、顯微照片分析法等。
1，電子顯微鏡
電子顯微鏡有兩種:SEM(掃描電子顯微鏡)、TEM(透射電子顯微鏡)
2，原子力顯微鏡，原子力顯微鏡(AFM)也常用于膜領(lǐng)域，原子力顯微鏡主要用于表征膜的表面，而且比電子顯微鏡更精確。原子粒顯微鏡
是一種用來(lái)表征膜的新方法，直徑小于1*10-8m的非常尖的探針以恒定
的力掃過(guò)被測(cè)表面時(shí)，探針頂部的原子會(huì)和樣品發(fā)生相互作用，通過(guò)檢測(cè)這些力就可得到樣品表面的掃描結(jié)構(gòu)。用微尺度的懸臂可以
實(shí)現(xiàn)在InN(InN-1*10-9N)的相互作用力下檢測(cè)，因此可以使用這種方法來(lái)檢查膜的表面(特別適合聚合物材料的膜)。
此方法的優(yōu)點(diǎn)是膜表面可在空氣中掃描而無(wú)需特別處理，所得到的掃描曲線可表現(xiàn)出可能存在的孔的位置和尺寸，而且可清晰地表征出表面
粗糙程度。但是在一般情況下，正是由于膜表面的粗糙程度要比孔徑大小相近，因此很難測(cè)得孔徑分布。因此如將此種方法和SEM等其他
方法結(jié)合起來(lái)，可以取得很好的效果。
